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非接觸式光學掃描儀是一種通過彩色激光光源發射出一束高密度寬光譜光，通過色散鏡頭后，在量程范圍內形成不同波長的單色光，每個波長對應一個距離值。測量光射到物體表面反射回來，只有滿足共聚焦條件的光，可以通過小孔被光譜儀感測到。通過計算被感測到光的焦點的波長，換算獲得距離值。它被廣泛應用在各種不同的精密產業中如油墨厚度測量，MLCC厚度測量，厚膜電路測量，銀漿厚度測量，激光刻蝕測量，涂膠厚度測量，半導體、

共面性尺寸測量儀設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規測量需求。

全自動光學影像儀結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的工件測量。廣泛應用于機械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器，磁性材料、精密五金、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機、家電、計算機（電腦）、液晶電視(LCD)、印刷電路板（線路板、PCB）、汽車、醫療器械、鐘表、螺絲、彈簧、儀器儀表、齒輪、凸輪、螺紋、半徑樣板、螺紋樣板、電線電纜、刀具、軸承、篩網、試驗篩。

封裝共面性測試儀結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規測量需求。

器件引腳共面性檢測儀設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規測量需求。

半導體共面性測量設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發的測量軟件，可實現準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規測量需求。